시험을 통과한 칩도 바로 나가지 않습니다. 출고 직전 외관 검사기가 칩의 6면을 전부 찍고, 사진으로는 안 보이는 '공 하나의 키'까지 빛 한 줄로 잽니다 — 한 시간에 최대 10만 개.
영상에서 보는 것
다 만든 칩은 출고 직전 6면을 전부 찍힙니다(장비 최고 사양 기준 한 시간에 최대 10만 개)
그런데 사진으로는 절대 안 잡히는 불량이 하나 있습니다
시험을 통과한 칩은 겉에 레이저로 표시가 새겨진 뒤 외관 검사기로 들어옵니다
윗면에선 금 간 곳과 잘못 새긴 글씨를 찾습니다
칩을 뒤집어 바닥의 작은 공(솔더볼)이 빠지거나 눌리지 않았는지 봅니다
진짜 문제는 공의 키 — 하나만 조금 낮아도 보드에 안 닿을 수 있습니다
위에서 찍은 사진에선 낮은 공도 똑같이 동그랗게 보입니다
그래서 빛을 한 줄로 쏘아 공 위를 훑고, 솟아오른 빛줄을 비스듬한 카메라가 읽어 공마다 키를 계산합니다
줄이 덜 솟은 공, 그게 낮은 공입니다
핵심 요약
외관 검사는 칩이 출하되기 전 마지막 관문입니다. 몸통의 균열·마킹 오류, 바닥 솔더볼의 빠짐·눌림처럼 사진으로 보이는 불량은 2D 카메라가 찾습니다.
공 하나의 높이처럼 위에서 찍은 사진에 안 나타나는 불량은 3D 측정이 맡습니다. 한 줄로 퍼진 빛을 비추고, 빛과 다른 각도의 카메라로 그 줄이 얼마나 솟았는지 보면 높이가 나옵니다(광절단·삼각측량).
지금 쥔 폰 속 칩들도 이런 눈을 거쳐 보드에 앉았습니다.
용어 정리
외관 검사
패키지 테스트·마킹이 끝난 칩을 출하 전에 카메라로 보고 겉모양 불량을 골라내는 공정입니다. 몸통은 균열·마킹 오류, 바닥은 솔더볼 눌림·빠짐 등을 봅니다.
6면 검사
윗면·아랫면(2D/3D)과 네 옆면(2D)을 모두 찍어 보는 방식입니다. 옆면 깨짐처럼 위아래에서 안 보이는 불량까지 봅니다.
레이저 마킹
시험이 끝난 칩 겉면에 레이저로 제품 정보와 시험 결과(속도 등급 등)를 새기는 것. 잘못 새기면 그것도 불량입니다.
솔더볼
BGA 칩 바닥에 줄지어 붙은 작은 땜납 공. 녹아서 칩과 보드를 잇습니다(앞선 솔더볼 편 주인공).
평탄도(코플래너리티)
바닥 공들의 꼭대기가 한 평면에 얼마나 고르게 있는지. 한 공만 낮으면 보드 패드에 닿지 않아 접속 불량이 날 수 있어 공마다 높이를 잽니다.
슬릿 빔(광절단) 3D 측정
한 줄로 펼친 빛을 표면에 비추고, 빛과 다른 각도의 카메라로 그 줄이 휘어진 모양을 찍어 높이를 계산하는 방법(삼각측량)입니다.
※ '6면'·'시간당 최대 10만 개'는 국내 외관검사 장비 제조사 제품 페이지(2026-10-06 열람)의 최고 사양이며 장비마다 다릅니다. 외관 검사 단계·항목은 SK하이닉스 뉴스룸(2022-09-30), 빛줄 높이 측정 원리는 특허 US7551272B2·US20070273874A1·US8605277B2 기준입니다.
※ 영상 속 칩 치수·공 배열·낮은 공의 높이차(눈에 보이게 과장)·기계 생김새·빛줄 색, 칩을 잘라 보인 단면은 원리를 보여 주는 그림입니다.
영상에서 못 다 한 얘기
볼 높이를 왜 그렇게 따질까요?
볼이 빠지거나 높이 차이가 나면 전기가 안 통하기 때문이에요.
그래서 높이 평탄도 기준이 있어요. 칩을 보드에 붙이는 리플로 공정에서 생길 불량을 막으려는 거예요.
몸체의 금이나 마킹 오류도 함께 봐요. 마킹은 시험 뒤에 하고, 그다음은 출하만 남아요.
출처
SK하이닉스 뉴스룸 「반도체 후공정 1편 반도체 테스트의 이해」(2022-09-30), 인텍플러스 반도체 후공정 외관검사·3D Technology 페이지(2026-10-06 열람), 특허 US7551272B2·US20070273874A1·US8605277B2. 기준일 2026년 10월 6일.