.. 차니쓰 리서치
CHANESS RESEARCH
← 3D로 보는 산업 기술 · 차니쓰 리서치 홈

칩은 출고 전 6면을 찍힌다

반도체 · 검사·계측 · 2026-10-07 · 유튜브 주식을 요리하다
다 만든 칩이 출고 직전에 거치는 '외관 검사기' 이야기예요. 핵심은 두 가지 — 칩의 6면을 전부 찍는다는 것, 그리고 사진으로는 안 보이는 '공 하나의 키'를 빛 한 줄로 잰다는 것.
한눈에 흐름
시험·레이저 마킹→외관 검사기(6면)→빛 한 줄로 높이 측정→양품만 출하
시험을 통과해 표시가 새겨진 칩이 검사기에 들어오면, 카메라가 겉모양을 보고 빛 한 줄이 바닥 공의 높이를 재서 불량을 걸러 내요.
30초 이해
이게 뭔가요?다 만든 칩을 출하 전에 카메라로 보고 겉모양 불량을 골라내는 장비(외관 검사기)예요.
뭐가 어렵나요?칩 바닥의 작은 공(솔더볼) 하나가 조금 낮아도 보드에 안 닿을 수 있는데, 위에서 찍은 사진에는 낮은 공도 똑같이 동그랗게 보여요.
어떻게 푸나요?빛을 한 줄로 쏘고 비스듬한 카메라로 그 줄이 얼마나 솟았는지 봐요. 줄이 덜 솟은 공이 낮은 공이에요.
장면으로 따라가기
옆으로 넘겨 보세요 → (9장면)
출고 직전, 6면 검사 장면

1출고 직전, 6면 검사

다 만든 칩은 출고 직전에 여섯 면을 전부 찍혀요. 장비 최고 사양 기준으로 한 시간에 최대 10만 개까지 봐요.

시험·마킹 뒤에 들어온다 장면

2시험·마킹 뒤에 들어온다

시험을 통과한 칩은 겉에 레이저로 표시가 새겨진 뒤 이 기계에 들어와요.

윗면은 금과 글씨를 본다 장면

3윗면은 금과 글씨를 본다

윗면에서는 금 간 곳과 잘못 새긴 글씨를 찾아요. 이런 불량은 사진으로 보여요.

뒤집어서 바닥의 공을 본다 장면

4뒤집어서 바닥의 공을 본다

칩을 뒤집어 바닥의 작은 공들이 빠지거나 눌리지 않았는지 살펴요.

진짜 문제는 공의 키 장면

5진짜 문제는 공의 키

공 하나만 조금 낮아도 보드에 안 닿을 수 있어요. 그래서 공마다 높이가 중요해요.

사진에는 똑같이 동그랗다 장면

6사진에는 똑같이 동그랗다

위에서 찍은 사진에서는 낮은 공도 다른 공과 똑같이 동그랗게 보여요. 사진만으로는 못 잡는 불량이에요.

빛을 한 줄로 쏜다 장면

7빛을 한 줄로 쏜다

그래서 빛을 한 줄로 쏘아 공 위를 훑어요.

솟아오른 빛줄을 비스듬히 본다 장면

8솟아오른 빛줄을 비스듬히 본다

공 위에서 솟아오른 빛줄을 비스듬한 카메라가 보고, 그 모양으로 키를 계산해요.

덜 솟은 줄 = 낮은 공 장면

9덜 솟은 줄 = 낮은 공

줄이 덜 솟은 공이 낮은 공이에요. 이렇게 걸러 낸 칩은 출하되지 않아요.

비유로 이해하기
💡 다리가 짧은 탁자로 생각해 보세요

탁자 다리 중 하나만 조금 짧아도 탁자는 흔들려요. 위에서 보면 다리 네 개가 다 멀쩡해 보이는데도요.

칩 바닥의 공이 바로 그 다리예요. 공 하나만 낮아도 보드에 안 닿을 수 있는데, 위에서 찍은 사진으로는 그게 안 보이죠.

그래서 빛을 한 줄로 비추고 비스듬히 봐요. 높은 곳에서는 줄이 많이 솟아 보이고, 낮은 곳에서는 덜 솟아 보이니까 공마다 키를 알 수 있어요.

숫자로 보기
6면윗면·아랫면(2D/3D)과 네 옆면(2D)을 모두 찍어 보는 방식
시간당 최대 10만 개제조사 제품 페이지의 최고 사양(UPH 100K) 기준 — 장비마다 달라요
3×3mm ~ 120×120mm한 장비가 검사할 수 있는 패키지 크기(제조사 사양)
빛 한 줄한 줄로 펼친 빛을 공 위에 훑어 높이를 재는 방식(슬릿 빔)
산업에서 왜 중요한가
누가 만드나
세계 큰손 (해외)
Camtek (이스라엘)반도체 패키지·웨이퍼 검사 장비를 만드는 회사
Onto Innovation (미국)3D 측정·검사 기술을 앞세운 반도체 검사 장비 회사
Nidec Advance Technology (일본)반도체 검사 장비를 만드는 회사. 영상 속 빛줄 높이 측정 원리의 특허(US7551272B2)에도 이름이 나와요
국내
인텍플러스반도체 패키지 외관검사 장비를 만드는 회사. 6면 검사와 3D 측정 장비를 판매해요
기가비스기판·패키지 외관을 광학으로 검사하는 장비 회사
펨트론기판·패키지 외관을 광학으로 검사하는 장비 회사

해외 회사는 업계에 널리 알려진 대표 업체를 골랐고, 국내 회사는 소부장 블로그 자료에 외관 검사 장비로 나온 곳이에요. 회사 소개일 뿐 투자 추천이 아닙니다.

영상으로 보기
YouTube에서 보기 ↗
더 깊이 — 원문 요약·용어 정리·출처

시험을 통과한 칩도 바로 나가지 않습니다. 출고 직전 외관 검사기가 칩의 6면을 전부 찍고, 사진으로는 안 보이는 '공 하나의 키'까지 빛 한 줄로 잽니다 — 한 시간에 최대 10만 개.

영상에서 보는 것
핵심 요약

외관 검사는 칩이 출하되기 전 마지막 관문입니다. 몸통의 균열·마킹 오류, 바닥 솔더볼의 빠짐·눌림처럼 사진으로 보이는 불량은 2D 카메라가 찾습니다.

공 하나의 높이처럼 위에서 찍은 사진에 안 나타나는 불량은 3D 측정이 맡습니다. 한 줄로 퍼진 빛을 비추고, 빛과 다른 각도의 카메라로 그 줄이 얼마나 솟았는지 보면 높이가 나옵니다(광절단·삼각측량).

지금 쥔 폰 속 칩들도 이런 눈을 거쳐 보드에 앉았습니다.

용어 정리
외관 검사
패키지 테스트·마킹이 끝난 칩을 출하 전에 카메라로 보고 겉모양 불량을 골라내는 공정입니다. 몸통은 균열·마킹 오류, 바닥은 솔더볼 눌림·빠짐 등을 봅니다.
6면 검사
윗면·아랫면(2D/3D)과 네 옆면(2D)을 모두 찍어 보는 방식입니다. 옆면 깨짐처럼 위아래에서 안 보이는 불량까지 봅니다.
레이저 마킹
시험이 끝난 칩 겉면에 레이저로 제품 정보와 시험 결과(속도 등급 등)를 새기는 것. 잘못 새기면 그것도 불량입니다.
솔더볼
BGA 칩 바닥에 줄지어 붙은 작은 땜납 공. 녹아서 칩과 보드를 잇습니다(앞선 솔더볼 편 주인공).
평탄도(코플래너리티)
바닥 공들의 꼭대기가 한 평면에 얼마나 고르게 있는지. 한 공만 낮으면 보드 패드에 닿지 않아 접속 불량이 날 수 있어 공마다 높이를 잽니다.
슬릿 빔(광절단) 3D 측정
한 줄로 펼친 빛을 표면에 비추고, 빛과 다른 각도의 카메라로 그 줄이 휘어진 모양을 찍어 높이를 계산하는 방법(삼각측량)입니다.
※ '6면'·'시간당 최대 10만 개'는 국내 외관검사 장비 제조사 제품 페이지(2026-10-06 열람)의 최고 사양이며 장비마다 다릅니다. 외관 검사 단계·항목은 SK하이닉스 뉴스룸(2022-09-30), 빛줄 높이 측정 원리는 특허 US7551272B2·US20070273874A1·US8605277B2 기준입니다.
※ 영상 속 칩 치수·공 배열·낮은 공의 높이차(눈에 보이게 과장)·기계 생김새·빛줄 색, 칩을 잘라 보인 단면은 원리를 보여 주는 그림입니다.
영상에서 못 다 한 얘기

볼 높이를 왜 그렇게 따질까요?

볼이 빠지거나 높이 차이가 나면 전기가 안 통하기 때문이에요.

그래서 높이 평탄도 기준이 있어요. 칩을 보드에 붙이는 리플로 공정에서 생길 불량을 막으려는 거예요.

몸체의 금이나 마킹 오류도 함께 봐요. 마킹은 시험 뒤에 하고, 그다음은 출하만 남아요.

출처
SK하이닉스 뉴스룸 「반도체 후공정 1편 반도체 테스트의 이해」(2022-09-30), 인텍플러스 반도체 후공정 외관검사·3D Technology 페이지(2026-10-06 열람), 특허 US7551272B2·US20070273874A1·US8605277B2. 기준일 2026년 10월 6일.
같은 산업(반도체) 다른 편
▶ 영상
칩 검사 바늘은 소모품이다
2026-11-05
▶ 영상
새 SSD는 일부러 혹사
2026-11-04
▶ 영상
쌓은 HBM을 또 검사
2026-11-03
▶ 영상
칩을 하나씩 찌르지 않는다
2026-11-01
▶ 영상
웨이퍼는 모래판이 아니다
2026-10-08
▶ 영상
칩 재는 바늘은 안 닿는다
2026-10-08
▶ 영상
공기만 닿아도 불붙는 재료
2026-10-07
▶ 영상
칩 검사기는 칩을 얼린다
2026-10-06
투자 권유가 아닌 기술 설명입니다. 특정 종목의 매수·매도를 권하지 않으며, 그림은 원리를 보여 주는 모식도입니다.