웨이퍼 검사는 칩을 하나씩 찌르지 않습니다. 바늘 15만 개 넘게 꽂힌 프로브카드 한 장이 300 mm 웨이퍼의 칩 3,000개 넘게를 한 번에 짚습니다. 그 바늘을 붙잡고 있는 주인공이 세라믹 판입니다.
영상에서 보는 것
메모리용 최신 프로브카드 한 장에는 바늘이 15만 개 넘게 달려, 300 mm DRAM 웨이퍼의 칩 3,000개 이상을 한 번 내려 닿기로 검사합니다
프로브카드는 칩을 자르기 전 웨이퍼 상태에서 칩마다 바늘을 대 전기를 흘려 보고 불량 칩을 골라내는 장치입니다
바늘이 박힌 다층 세라믹 판은 칩 쪽 촘촘한 간격을 위쪽 회로 기판(PCB)의 넓은 간격으로 넓혀 잇습니다. 그래서 이름이 스페이스 트랜스포머입니다
기판 요구 사양의 촘촘한 간격은 30 µm로, 머리카락 굵기(약 0.1 mm)의 3분의 1도 안 됩니다
검사는 -40°C부터 125°C까지 오갑니다. 세라믹은 열팽창이 작아 뜨거운 웨이퍼 위에서도 바늘 자리가 덜 어긋납니다
앞선 방식인 수지(폴리이미드) 층 기판은 열 변형으로 검사 정확도가 떨어질 수 있습니다
핵심 요약
프로브카드는 바늘, 바늘을 꽂은 세라믹 기판, 위쪽 회로 기판으로 이뤄집니다. 세라믹 기판이 촘촘한 바늘 간격을 넓은 간격으로 바꿔 주고, 열에 덜 늘어나 온도가 크게 바뀌어도 바늘을 패드 위에 붙잡아 둡니다.
용어 정리
프로브카드
웨이퍼 위 칩의 패드에 바늘을 대 전기 검사를 하는 판입니다.
웨이퍼 검사(웨이퍼 테스트)
칩을 자르기 전에 웨이퍼 상태로 칩마다 전기를 흘려 좋고 나쁨을 가리는 공정입니다.
스페이스 트랜스포머
촘촘한 바늘 간격을 회로 기판 쪽 넓은 간격으로 넓혀 잇는 기판입니다.
다층 세라믹(MLC)
얇은 세라믹 판을 여러 장 쌓고 층 사이에 금속 배선을 넣어 구운 기판입니다.
열팽창
온도가 오르면 물체가 늘어나는 성질입니다.
※ 바늘 15만 개·칩 3,000개는 한 제품의 '이상' 수치(하한)입니다.
※ 판의 층 수와 크기, 배선 모양, 수지 판이 늘어나는 정도, 열의 색(주황=뜨거움, 파랑=차가움)은 원리를 보여 주는 그림입니다.
※ 영상 속 3D 장면은 AI 도구로 만들었습니다.
영상에서 못 다 한 얘기
2002년 세대 카드는 같은 300mm 웨이퍼를 여섯 번에 나눠 짚었습니다.
지금 메모리용 카드는 바늘 15만 개 넘게로 칩 3,000개 넘게를 한 번에 짚습니다.
바늘 간격이 50µm 아래로 내려가면 카드 부품 만들기가 크게 어려워집니다.
판 속 층 사이 텅스텐 배선은 1,300~1,500°C에서 구워 세라믹과 한 몸이 됩니다.
출처
FormFactor SmartMatrix 3000XP 보도자료(2020-05-29) / Tunaboylu·Soydan, MEMS Technologies Enabling the Future Wafer Test Systems (IntechOpen, 2018) / US11437196B2 특허 / Electronic Design, 11,000-Probe Card Tests 300-mm DRAMs In Only Six Touchdowns 다음에 궁금해질 질문: 바늘 15만 개는 어떻게 한 줄로 높이를 맞출까요? 반도체 소부장을 3D 단면으로 하나씩 열어 보는 시리즈입니다. 장비 속을 직접 열어 보고 싶다면 구독해 두세요.