반도체 원판에 바르는 양성(포지티브) 감광액(포토레지스트)은 빛을 받아도 굳지 않습니다. 빛 맞은 자리가 녹아 사라지고, 그 일을 끝내는 건 빛이 아니라 열 속에서 돌아다니는 산 하나입니다 — 산 하나가 보호 뚜껑을 수백 개씩 떼어 냅니다.
영상에서 보는 것
양성 감광액은 빛을 받아도 굳지 않고, 빛 맞은 자리가 녹아 없어집니다(양성 화학증폭형 기준 — 음성 감광액은 반대로 빛 맞은 자리가 굳어 남습니다)
빛은 방아쇠만 당기고, 무늬를 끝내는 건 따로 있습니다
1분에 수천 바퀴 도는 웨이퍼에 감광액 몇 mL를 떨어뜨리면
대부분 튕겨 나가고 몇 %만 남아, 두께 수십 nm 막이 됩니다
막 속엔 긴 고분자 사슬이 있고, 물에 녹는 자리마다 뚜껑(보호기)이 덮여 있습니다
그 사이사이엔 빛을 받으면 산을 내놓는 분자(광산발생제)가 섞여 있습니다
회로 무늬대로 빛을 쬐면, 맞은 자리에서만 산이 생깁니다
그대로는 뚜껑이 그대로 — 웨이퍼를 데워야 산이 움직입니다
산 하나가 돌아다니며 뚜껑을 수백 개씩 떼어 냅니다
현상액이라는 물을 부으면 뚜껑 벗은 사슬만 녹아 나가고, 벽만 남습니다
이 막이 비워 둔 자리를 따라 아래 실리콘이 깎입니다
핵심 요약
화학증폭형 감광액에서 빛이 하는 일은 산을 만드는 것까지입니다. 굽는 열 속에서 그 산이 촉매처럼 보호 뚜껑을 연달아 떼어 내야 그 자리가 물에 녹는 성질로 바뀝니다.
산 하나가 수백 번 반응하기 때문에, 적은 빛으로도 막 전체를 바꿀 수 있습니다(과학사 잡지 Science History Institute에 따르면 처음 개발 때 248 nm 빛에서 감도가 100~200배 좋아졌습니다).
손에 쥔 폰 속 회로도, 이렇게 감광액이 비워 둔 자리를 따라 깎인 것입니다.
용어 정리
감광액(포토레지스트)
빛을 받으면 성질이 바뀌는 막입니다. 웨이퍼에 얇게 바르고 회로 무늬대로 빛을 쬔 뒤 현상하면, 무늬대로 구멍이 난 막이 남아 아래를 깎거나 채우는 '틀'이 됩니다. 빛 맞은 자리가 녹는 양성(포지티브)과, 반대로 빛 맞은 자리가 남는 음성(네거티브)이 있습니다. 영상은 양성 기준입니다.
화학증폭형 감광액(CAR)
빛이 직접 막을 바꾸는 대신, 빛이 만든 산이 열 속에서 촉매처럼 여러 번 반응하게 만든 감광액입니다. IBM 연구진(윌슨·프레셰·이토)이 개발했고, 1990년대 초부터 업계에서 널리 쓰여 지금도 주력입니다. 고NA EUV용으로는 금속산화물 감광액(MOR) 같은 다른 방식도 개발되고 있습니다.
스핀 코팅
웨이퍼를 빠르게 돌려 떨어뜨린 감광액을 원심력으로 얇고 고르게 펴는 방법입니다. 떨어뜨린 양의 대부분은 가장자리로 튕겨 나가고 몇 %만 막으로 남습니다.
보호기(뚜껑)
고분자 사슬의 물에 녹는 자리를 막아 두는 작은 분자 무리입니다. 붙어 있으면 막이 현상액에 녹지 않습니다.
광산발생제(PAG)
빛을 받으면 분해되어 산을 내놓는 분자입니다. 빛 맞은 자리에서만 산이 생깁니다.
노광 후 굽기(PEB)
빛을 쬔 웨이퍼를 핫플레이트에서 데우는 단계입니다. 이 열에서 산이 퍼지며 보호기를 떼어 내는 반응이 일어나고, 반응이 산을 다시 내놓아 하나의 산이 보통 수백 번 반응합니다.
현상액
뚜껑이 벗겨져 물에 녹게 된 자리를 씻어 내는 액체입니다. 양성 공정에선 수산화테트라메틸암모늄(TMAH) 2.38% 수용액을 씁니다.
식각
감광막이 비워 둔 자리를 따라 아래 층을 깎아 내는 공정입니다. 감광막 무늬가 이 단계에서 실제 회로 층으로 옮겨집니다.
※ 공정 순서·보호기·PAG·PEB·TMAH 2.38%·EUV 막 두께 30~50 nm는 imec 연구진 튜토리얼(Adv. Opt. Techn. 2017), 산 하나당 반응 수(수백 회)는 Smart Molecules 리뷰(2026-07), 감도 100~200배는 Science History Institute 글(2차), 스핀 코팅 조건과 수율은 MicroChemicals 기술 문서와 TSMC 특허(US9720325B2), 개발사는 Science History Institute 글 기준입니다(2026-10-06 열람).
※ 영상 속 코터 모양, 막 색, 사슬·뚜껑·광산발생제 모양과 수, 산이 움직이는 길, 마스크와 빛, 웨이퍼 위 무늬 크기(실제 선은 수십 nm), 폰은 원리를 보여 주는 그림입니다.
영상에서 못 다 한 얘기
쓰고 버리는 감광액이 95%입니다.
돌려서 바르는 방식이라, 떨어뜨린 감광액 대부분이 튕겨 나가고 남는 건 5%가 안 된다고 TSMC 특허에 적혀 있습니다.
그렇게 남은 막이 EUV 기준 30~50nm 두께입니다.
그리고 이 "산 하나가 뚜껑 수백 개를 떼는" 방식은 1980년대 IBM에서 나왔고, 빛 감도를 100~200배 올려 지금도 주력입니다.
빛 맞은 자리가 남는 반대 방식(음성형)도 따로 있습니다.
출처
De Simone 외 「Photoresists in extreme ultraviolet lithography」(Adv. Opt. Techn. 2017), imec 「High-NA EUV lithography」(2021-10), Zhou 외 「Recent advances in polymeric chemically amplified positive resists」(Smart Molecules 2026-07), MicroChemicals 「Spin-coating of Photoresists」, US Patent 9720325B2, Science History Institute 「Patterning the World」. 기준일 2026년 10월 6일.